AFM bezieht sich auf die Rasterkraftmikroskopie und STM auf die Rastertunnelmikroskopie. Die Entwicklung dieser beiden Mikroskope gilt als Revolution im atomaren und molekularen Bereich.

Wenn es um AFM geht, werden präzise Bilder aufgenommen, indem eine Spitze im Nanometerbereich auf die Oberfläche des Bildes gelegt wird. STM fotografiert mit einem Quantentunnel.

Das erste der beiden Mikroskope war das Rastertunnelmikroskop.

Im Gegensatz zu STM kommuniziert die Sonde direkt mit der Oberfläche oder berechnet die eingehende chemische Bindung im AFM. STM-Bilder werden indirekt durchgeführt, indem die Bestimmung des Quantenniveaus zwischen diesem Test und der Probe berechnet wird.

Ein weiterer Unterschied besteht darin, dass die Spitze im AFM die Oberfläche berührt, während die Spitze im STM nicht weit vom Boden entfernt ist.

Im Gegensatz zum STM misst das AFM nicht den Tunnelfluss, sondern nur die geringe Kraft zwischen der Oberfläche und der Spitze.

Es wurde auch festgestellt, dass AFM-Größen besser waren als STMs. Daher ist AFM in der Nanotechnologie weit verbreitet. In Bezug auf die Beziehung zwischen Stärke und Distanz ist AFM komplexer als STM.

Das Scannen von Tunnelmikroskopen wird üblicherweise bei Leitern verwendet, während die Rasterkraftmikroskopie sowohl bei Leitern als auch bei Isolatoren eingesetzt wird. Das AFM eignet sich gut für flüssige und gasförmige Umgebungen, und STM arbeitet nur im Hochvakuum.

Im Vergleich zu STM bietet AFM einen besseren topografischen Kontrast mit direkten Höhenmessungen und besseren Oberflächeneigenschaften.

Zusammenfassung

1. AFM erfasst Präzisionsbilder, indem eine Spitze im Nanometerbereich über die Bildoberfläche bewegt wird. STM-Fotografien mittels Quantentunneling.

2. Die Sonde kommuniziert direkt mit der Oberfläche oder berechnet die am AFM eingehende chemische Bindung. STM-Bilder werden indirekt durchgeführt, indem die Bestimmung des Quantenniveaus zwischen diesem Test und der Probe berechnet wird.

3. Die AFM-Spitze berührt die Oberfläche und das STM wird in geringem Abstand von der Oberfläche gehalten.

4. Die AFM-Auflösung ist besser als die STM. Daher ist AFM in der Nanotechnologie weit verbreitet.

5. Tunnelmikroskop Das Scannen wird normalerweise auf Leiter angewendet, und die Rasterkraftmikroskopie wird sowohl in Leitern als auch in Isolatoren verwendet.

6. AFM eignet sich gut für flüssige und gasförmige Umgebungen, und STM funktioniert nur im Hochvakuum.

7. Das Rastertunnelmikroskop war das erste von zwei Mikroskopen.

Referenzen